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日立S-3000N掃描電子顯微鏡

S-3000N掃描電子顯微鏡

日本日立S-3000N掃描電子顯微鏡SEM是一種電腦控制的變壓掃描電子顯微鏡，能夠在高真空和變壓模式之間切換。它具有高密度幀存儲(chǔ)器和先進(jìn)的圖像捕獲和存檔系統(tǒng)。 四象限固態(tài)反向散射允許通過(guò)操縱探測(cè)器的每個(gè)部分以成分、三維和地形模式成像。

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產(chǎn)品詳情

日本日立S-3000N掃描電子顯微鏡SEM系統(tǒng)規(guī)范

0.3-30kV加速電壓范圍；可變壓力模式下，25kV時(shí)分辨率為5nm；直徑150毫米的最大樣本尺寸；低電壓信號(hào)噪聲的雙偏置。


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